bn:01591108n
Noun Concept
Categories: 科学的技法, 表面物理学
JA
原子間力顕微鏡  afmプローブ
JA
原子間力顕微鏡(げんしかんりょくけんびきょう、英: atomic force microscope、 AFM)は、走査型プローブ顕微鏡(SPM)の一種であり、試料の表面と探針の原子間にはたらく力を検出して画像を得る顕微鏡である。 Wikipedia
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原子間力顕微鏡(げんしかんりょくけんびきょう、英: atomic force microscope、 AFM)は、走査型プローブ顕微鏡(SPM)の一種であり、試料の表面と探針の原子間にはたらく力を検出して画像を得る顕微鏡である。 Wikipedia
試料の表面と探針の原子間にはたらく力を検出して画像を得る顕微鏡 Wikidata
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